技术文章
原子力显微与表面纳米计量选型要点
说明AFM在材料、半导体和生命科学样品中的模式选择、样品台、探针和环境控制关注点。
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产品简介
面向小样品高分辨率研究的自动化 AFM，集成自动探针交换、激光对准、PSPD 居中和样品导航，并采用正交扫描及 True Non-contact 模式。
产品概述
面向小样品高分辨率研究的自动化 AFM，集成自动探针交换、激光对准、PSPD 居中和样品导航，并采用正交扫描及 True Non-contact 模式。
核心特点
- 自动探针交换、激光对准和 PSPD 居中
- 正交 XY/Z 扫描降低轴间耦合
- True Non-contact 模式减少针尖和样品损伤
- 自动探针模块最多容纳 8 支预装探针
典型应用
适用于二维材料、聚合物、半导体、纳米器件、生物材料及电学、力学和磁学纳米表征。
选型提示
确认样品尺寸、扫描范围、Z 量程、所需电学/力学/磁学模式、液相需求和自动探针配置。
配置与合规说明
页面依据供应商公开资料整理。实际性能受型号配置、光学组件、样品、环境和软件选件影响，正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | Park Systems |
| 型号 | FX40 |
| 样品尺寸 | 20 × 20 mm；特定配置最高约 100 mm |
| XY 扫描范围 | 50 或 100 μm |
| Z 扫描范围 | 15 μm |
| XY 工作范围 | 105 × 40 mm |
| 探针容量 | 最多 8 支 |
| 锁相放大器 | 8 通道，5 MHz |
| 核心模式 | True Non-contact |
平台AFM/纳米表征型号FX40
选型判断
先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标
- 明确样品材料、尺寸、结构和表面状态
- 确认目标膜层、结构或纳米属性及预期量程
- 核对光谱范围、入射角、光斑或扫描范围
- 确认测量速度、点位数量与自动化节拍
- 评估样品台尺寸、承重、定位和环境要求
- 确认分析模型、数据库、报告和数据接口
- 核对校准标准、验收方法和计量溯源
- 使用代表性样品验证重复性、相关性和方法适用性
配置清单
询价前需要确认的配置项
- 设备主机及核心测量模块
- 光源、探测器、物镜或扫描头配置
- 样品台、夹具、卡盘或自动装载模块
- 控制电脑、软件及数据存储
- 分析模型、材料数据库和报告模板
- 校准件、标准样品及核查工具
- 隔振、声学罩、排风或环境设施
- 安装调试、方法开发、验收和培训
代理服务
选型与交付支持
可协助需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接；授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
哪些需求适合优先评估这个型号
二维材料与纳米器件
聚合物和复合材料
半导体表面分析
多物性纳米表征
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验：2026-09-01