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光学三维轮廓与白光干涉选型要点
面向材料表面、精密加工和半导体封装,说明三维轮廓、白光干涉和激光显微测量的适配场景。
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产品简介
采用相干扫描干涉技术的非接触三维光学轮廓仪,可快速测量光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶表面,在各倍率下提供亚纳米级精度。
采用相干扫描干涉技术的非接触三维光学轮廓仪,可快速测量光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶表面,在各倍率下提供亚纳米级精度。
适用于表面粗糙度、波纹度、平面度、台阶高度、薄膜和微结构测量,以及实验室和生产质量控制。
根据样品尺寸、目标视野、自动化程度和预算选择平台配置,并确认物镜、变倍、薄膜分析、拼接与隔振选件。
页面依据供应商公开资料整理。具体测量能力受样品、光学配置、测量模式、环境和软件选件影响,正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | ZYGO(齐高) |
| 型号 | NewView 9000 |
| 测量原理 | 相干扫描干涉(CSI) |
| 垂直精度 | 亚纳米级 |
| 图像传感器 | 1.9 MP |
| 变倍系统 | 三位置离散变倍转塔 |
| XY 平台 | 手动至最高约 150 mm 自动行程 |
| 软件 | Mx 控制、分析与自动化 |
| 兼容标准 | ISO 25178 / ISO 4287 |
技术文章
面向材料表面、精密加工和半导体封装,说明三维轮廓、白光干涉和激光显微测量的适配场景。
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配置清单
代理服务
可协助完成需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
表面粗糙度与波纹度
台阶和三维形貌测量
薄膜与微结构分析
实验室和生产质量控制
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-01