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光学三维轮廓与白光干涉选型要点
面向材料表面、精密加工和半导体封装,说明三维轮廓、白光干涉和激光显微测量的适配场景。
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产品简介
采用相干扫描干涉技术的非接触三维光学轮廓仪,可快速测量光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶表面,在各倍率下提供亚纳米级精度。
ZYGO NewView 9000 是兼顾通用性与精度的非接触三维光学轮廓仪,利用白光相干扫描干涉获取微观表面高度数据。系统提供多种平台和自动化配置,并通过 Mx 软件完成纹理、台阶、形貌及薄膜分析,适合研发和质量检测。
ZYGO NewView 9000 三维光学轮廓仪 的页面内容按照型号 NewView 9000 对应的制造商公开资料整理,重点保留对方案设计和采购选型有用的信息。
精密加工、光学元件、半导体、MEMS、涂层、粗糙度和台阶高度测量、生产质量控制。
实际方案需结合样品尺寸、材料特性、目标缺陷或测量范围、节拍、自动化程度以及数据输出要求进行设计。
选型时建议逐项确认测量原理、样品尺寸、空间与高度范围、精度和重复性、扫描速度、光学配置、自动平台、软件分析功能以及现场安装条件。系列产品和可选模块应按具体料号确认。
| 参数项 | 数值 |
|---|---|
| 品牌 | ZYGO |
| 型号 | NewView 9000 |
| 测量原理 | 相干扫描干涉 CSI |
| 测量方式 | 非接触三维表面测量 |
| 垂向性能 | 亚纳米级表面高度分辨能力 |
| 倍率影响 | 垂向精度不依赖物镜倍率 |
| 测量内容 | 粗糙度、纹理、波纹度、平面度 |
| 台阶高度 | 支持 |
| 薄膜分析 | 支持 Mx Films 配置 |
| 自动平台 | 提供自动载物台配置 |
| 拼接测量 | 支持 |
| 分析软件 | ZYGO Mx |
| 样品适应性 | 适用于多种材料和反射率 |
| 应用定位 | 研发与生产质量检测 |
技术文章
面向材料表面、精密加工和半导体封装,说明三维轮廓、白光干涉和激光显微测量的适配场景。
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配置清单
代理服务
可协助完成需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。
应用场景
表面粗糙度与波纹度
台阶和三维形貌测量
薄膜与微结构分析
实验室和生产质量控制
资料依据
页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。
资料核验:2026-09-01