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型号: NewView 9000

ZYGO NewView 9000 三维光学轮廓仪

Zygo NewView 9000 Optical Profiler 高端工业3D显微系统

产品简介

采用相干扫描干涉技术的非接触三维光学轮廓仪,可快速测量光滑、粗糙、平坦、倾斜和台阶表面,在各倍率下提供亚纳米级精度。

型号NewView 9000
品牌ZYGO
分类半导体/薄膜/表面检测
电话联系 13422079856

产品概述

ZYGO NewView 9000 是兼顾通用性与精度的非接触三维光学轮廓仪,利用白光相干扫描干涉获取微观表面高度数据。系统提供多种平台和自动化配置,并通过 Mx 软件完成纹理、台阶、形貌及薄膜分析,适合研发和质量检测。

ZYGO NewView 9000 三维光学轮廓仪 的页面内容按照型号 NewView 9000 对应的制造商公开资料整理,重点保留对方案设计和采购选型有用的信息。

核心特点

  • 测量方式:非接触三维表面测量。
  • 垂向性能:亚纳米级表面高度分辨能力。
  • 倍率影响:垂向精度不依赖物镜倍率。
  • 测量内容:粗糙度、纹理、波纹度、平面度。
  • 台阶高度:支持。
  • 薄膜分析:支持 Mx Films 配置。
  • 自动平台:提供自动载物台配置。
  • 拼接测量:支持。
  • 分析软件:ZYGO Mx。

典型应用

精密加工、光学元件、半导体、MEMS、涂层、粗糙度和台阶高度测量、生产质量控制。

实际方案需结合样品尺寸、材料特性、目标缺陷或测量范围、节拍、自动化程度以及数据输出要求进行设计。

选型提示

选型时建议逐项确认测量原理、样品尺寸、空间与高度范围、精度和重复性、扫描速度、光学配置、自动平台、软件分析功能以及现场安装条件。系列产品和可选模块应按具体料号确认。

型号NewView 9000
分类半导体/薄膜/表面检测

选型与服务

NewView 9000 选型与配置

咨询 ZYGO NewView 9000 的配置、供货周期与技术资料。

咨询配置与报价
品牌ZYGO平台半导体/薄膜/表面检测型号NewView 9000

选型判断

先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标

  • 明确被测对象、材料、尺寸和表面状态
  • 确认目标缺陷、颗粒、膜厚或形貌的量程与分辨率
  • 核对样品台尺寸、行程、承重和自动化需求
  • 确认测量速度、点位数量及产线节拍
  • 评估环境振动、温湿度、洁净度和安装空间
  • 确认软件分析、报告、数据追溯与接口要求
  • 核对校准标准、验收方法和计量溯源要求
  • 使用代表性样品进行重复性、再现性和相关性验证

配置清单

询价前需要确认的配置项

  • 设备主机及对应测量模块
  • 物镜、探头、光源或探测器配置
  • 样品台、夹具、卡盘或样品适配器
  • 控制电脑、显示器及数据存储
  • 分析软件、自动化模块和报告模板
  • 校准件、标准样品及日常核查工具
  • 安全互锁、排风、冷却或防振设施(如适用)
  • 安装调试、方法开发、验收和培训服务

代理服务

选型与交付支持

可协助完成需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。

应用场景

哪些需求适合优先评估这个型号

表面粗糙度与波纹度

台阶和三维形貌测量

薄膜与微结构分析

实验室和生产质量控制

资料依据

页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。

资料核验:2026-09-01
ZYGO:NewView 9000