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型号: ContourX-500

布鲁克 Bruker ContourX-500 全自动台式三维光学轮廓仪

三维光学轮廓仪ContourX-500

产品简介

全自动台式白光干涉三维光学轮廓仪,结合编码 XY 平台、自动倾斜测头和集成隔振,在紧凑体积内实现高精度表面形貌与粗糙度计量。

型号ContourX-500
品牌Bruker
分类半导体/薄膜/表面检测
电话联系 13422079856

产品概述

全自动台式白光干涉三维光学轮廓仪,结合编码 XY 平台、自动倾斜测头和集成隔振,在紧凑体积内实现高精度表面形貌与粗糙度计量。

核心特点

  • 垂直分辨率低于 0.01 nm
  • 最大扫描范围最高约 10 mm
  • 150 mm 编码自动 XY 平台
  • 自动 ±5° 倾斜测头与自动拼接

典型应用

适用于小型晶圆、精密加工件、生物医学器件、MEMS 和眼科器件的研发、QA/QC 与自动化三维表面计量。

选型提示

适合要求高自动化的中小样品;若需要 300 mm 平台、更高吞吐量或落地式生产配置,应与 ContourX-1000 比较。

配置与合规说明

页面依据供应商公开资料整理。具体测量能力受样品、光学配置、测量模式、环境和软件选件影响,正式采购以供应商最新规格书、具体料号和技术协议为准。

型号ContourX-500
分类半导体/薄膜/表面检测

选型与服务

ContourX-500 选型与配置

咨询 Bruker ContourX-500 的配置、供货周期与技术资料。

咨询配置与报价
品牌Bruker平台半导体/薄膜/表面检测型号ContourX-500

选型判断

先确认这台仪器是否真正匹配你的实验目标

  • 明确被测对象、材料、尺寸和表面状态
  • 确认目标缺陷、颗粒、膜厚或形貌的量程与分辨率
  • 核对样品台尺寸、行程、承重和自动化需求
  • 确认测量速度、点位数量及产线节拍
  • 评估环境振动、温湿度、洁净度和安装空间
  • 确认软件分析、报告、数据追溯与接口要求
  • 核对校准标准、验收方法和计量溯源要求
  • 使用代表性样品进行重复性、再现性和相关性验证

配置清单

询价前需要确认的配置项

  • 设备主机及对应测量模块
  • 物镜、探头、光源或探测器配置
  • 样品台、夹具、卡盘或样品适配器
  • 控制电脑、显示器及数据存储
  • 分析软件、自动化模块和报告模板
  • 校准件、标准样品及日常核查工具
  • 安全互锁、排风、冷却或防振设施(如适用)
  • 安装调试、方法开发、验收和培训服务

代理服务

选型与交付支持

可协助完成需求梳理、样品测试、方法评估、配置核对、安装培训及售后对接;授权、价格、交期和供货范围以正式商务确认为准。

应用场景

哪些需求适合优先评估这个型号

精密加工 QA/QC

半导体与 MEMS 研发

生物医学器件表面分析

自动化三维表面计量

资料依据

页面内容以品牌方公开资料、产品参数和售前配置复核为基础。正式价格、授权关系、供货周期和最终配置以商务确认为准。

资料核验:2026-09-01
Bruker:ContourX-500