
产品简介
ContourX-500 光学浮光计是世界上最全面的自动化台式系统,用于快速、非接触式 3D 表面测量。支持量具的 ContourX-500 拥有无与伦比的 Z 轴分辨率和精度,以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉测量 (WLI) 地面站立模型的所有业界公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的 QA/QC 计量到眼科和 MEMS 器件的研发特性,探查器可轻松定制到最广泛的复杂应用。
支持按工艺目标、样本类型与通量要求进行选型建议。
ContourX-500 光学浮光计是世界上最全面的自动化台式系统,用于快速、非接触式 3D 表面测量。支持量具的 ContourX-500 拥有无与伦比的 Z 轴分辨率和精度,以更小的尺寸提供布鲁克白光干涉测量 (WLI) 地面站立模型的所有业界公认的优势。从精密加工表面和半导体工艺的 QA/QC 计量到眼科和 MEMS 器件的研发特性,探查器可轻松定制到最广泛的复杂应用。
