MIRA XMU
TESCAN MIRA XMU 场发射扫描电子显微镜
面向研究与工业分析的场发射扫描电子显微镜，支持灵活的成像和分析配置。
品牌TESCAN
型号MIRA XMU
系统类型肖特基场发射扫描电子显微镜
AMBER X
TESCAN AMBER X 等离子体 FIB-SEM
利用等离子体离子束提升大体积材料去除与三维表征效率的 FIB-SEM 平台。
品牌TESCAN
型号AMBER X
系统类型Xe 等离子体 FIB-SEM 双束系统
SOLARIS X
TESCAN SOLARIS X 超高分辨率 FIB-SEM
面向半导体与先进材料研究的高分辨率双束 FIB-SEM 平台。
品牌TESCAN
型号SOLARIS X
系统类型超高分辨率 Xe 等离子体 FIB-SEM
AMBER
TESCAN AMBER 高分辨率 FIB-SEM
面向高分辨率成像、截面制备和三维材料表征的聚焦离子束扫描电镜平台。
品牌TESCAN
型号AMBER
系统类型高分辨率 Ga FIB-SEM 双束系统
EM-30AX Plus
COXEM EM-30AX Plus 一体式 SEM-EDS 系统
将台式扫描电镜与能谱分析整合于同一平台，支持形貌观察与元素分析。
品牌COXEM
型号EM-30AX Plus
系统类型台式扫描电子显微镜与 EDS 一体化系统
SNE-4500M Plus
SEC SNE-4500M Plus 桌面扫描电子显微镜
面向材料、电子与工业检测的高分辨率桌面扫描电子显微镜。
品牌SEC
型号SNE-4500M Plus
系统类型台式扫描电子显微镜
BioContinuum
Gatan BioContinuum 成像能量过滤系统
用于提升 TEM 图像对比度并支持冷冻电镜直接电子探测工作流的柱后成像能量过滤系统。
品牌Gatan / AMETEK
型号BioContinuum 1067 / 1067HD
系统类型TEM 柱后成像能量过滤系统
CRYO ARM 300（JEM-Z300FSC）
JEOL CRYO ARM 300 冷冻透射电子显微镜
集成冷场发射电子源、能量过滤与自动样品交换能力的 300 kV 冷冻透射电子显微镜平台。
品牌JEOL
型号CRYO ARM 300（JEM-Z300FSC）
系统类型冷场发射冷冻透射电子显微镜
Dimension Icon
Bruker Dimension Icon 研究级原子力显微镜
兼具低噪声、低漂移和开放式样品操作空间的大样品原子力显微镜。
品牌Bruker
型号Dimension Icon
系统类型大样品研究级原子力显微镜