ZEISS Crossbeam 350
蔡司Crossbeam 350是专为多用户共享平台打造的灵活型FIB-SEM聚焦离子束双束电镜，可为科研和工业工作流提供可靠的高分辨率成像分析、TEM样品制备以及灵活的配置方案。独特的无漏磁电子镜筒实现真正边切边看，低电压下获得高分辨率电子图像，可实现大尺寸到纳米精度的切割。通过加装飞秒激光模块，Crossbeam的加工效率和尺度可进一步拓展，同时可以满足多种微纳加工需求。适配高校分析测试平台、科研院所、半导体工厂、电池企业等各类客户，可完成半导体失效分析、锂电池隔膜表征、复合材料三维断层扫描、生物样品低电压SEM显微成像以及高质量TEM薄片制样。
ZEISS Xradia 620 Versa X-ray Microscope
蔡司Versa系列X射线显微镜(XRM)，亚微米级三维X射线无损扫描成像解决方案，凭借创新的X射线源加光学放大量级成像架构与RaaD大工作距离高分辨率技术，突破传统microCT技术局限，在大工作距离下也能实现450-500nm的真实空间分辨率。系列包含三款机型：VersaXRM 730、VersaXRM 615、Xradia 515 Versa。搭载AI驱动的 DeepRecon Pro深度学习重建技术与ZEN navx智能导航系统。利用快速扫描模式Fast mode可实现一分钟快速采集扫描，支持4D原位动态观测与多尺度关联成像。广泛应用于材料科学(能源材料/金属材料/复合材料/高分子材料/陶瓷/仿生和生物医用材料等)、半导体封装失效分析、电池研究和检测、增材制造检测、地质油气、古生物、工业质量控制、生物制药及生命科学领域，为前沿科研探索与工业检测提供坚实技术支撑。
ZEISS Xradia 610 Versa X-ray Microscope
蔡司Versa系列X射线显微镜(XRM)，亚微米级三维X射线无损扫描成像解决方案，凭借创新的X射线源加光学放大量级成像架构与RaaD大工作距离高分辨率技术，突破传统microCT技术局限，在大工作距离下也能实现450-500nm的真实空间分辨率。系列包含三款机型：VersaXRM 730、VersaXRM 615、Xradia 515 Versa。搭载AI驱动的 DeepRecon Pro深度学习重建技术与ZEN navx智能导航系统。利用快速扫描模式Fast mode可实现一分钟快速采集扫描，支持4D原位动态观测与多尺度关联成像。广泛应用于材料科学(能源材料/金属材料/复合材料/高分子材料/陶瓷/仿生和生物医用材料等)、半导体封装失效分析、电池研究和检测、增材制造检测、地质油气、古生物、工业质量控制、生物制药及生命科学领域，为前沿科研探索与工业检测提供坚实技术支撑。
Hitachi High-Tech SU8700 FE-SEM
随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且注重其采集过程的时代。SU8700作为一款面向新时代的SEM，在日立电镜贯有的高图像质量和高稳定性的基础上，增加了包括自动获取数据等高通量的功能。
Hitachi High-Tech SU8600 FE-SEM
随着快速数据采集和数据处理技术的发展，电子显微镜进入了一个不仅重视数据质量，而且重视其采集过程的时代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术，同时还大大提升了高通量、自动数据获取能力。
Hitachi High-Tech SU7000 FE-SEM
SU7000采用全新设计的电子光学系统和检测系统，可同时采集二次电子和背散射电子等多种信号，迅速获取从大视野全貌图到表面细微结构等样品信息，最多可同时显示/保存6通道信息，真正实现了成像能力的最大化。
Hitachi High-Tech SU5000 FE-SEM
The SU5000 is an innovative analytical field-emission SEM for a simple transition between high vacuum and variable pressure mode, controlled via EM Wizard, a knowledge-based system for SEM imaging.
Hitachi High-Tech SU3900 VP-SEM
SU3900/SU3800 SE系列作为FE-SEM产品，配置超高分辨率与观察能力，而且不像部分SEM产品，受安装样品尺寸与重量的限制，此系列可以通过简单的操作实现数据采集。
HF5000
结合高分辨率 TEM/STEM 成像与分析能力的场发射透射电子显微镜。
HT7800 系列
面向常规生物与材料研究的高对比度透射电子显微镜系列。
