Excelitas PCO pco.dicam C1 intensified camera
Excelitas PCO pco.dicam C1 intensified camera 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Excelitas PCO pco.panda 4.2 bi sCMOS
Excelitas PCO pco.panda 4.2 bi sCMOS 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Excelitas PCO pco.edge 4.2 bi sCMOS
Excelitas PCO pco.edge 4.2 bi sCMOS 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Teledyne Photometrics Iris 15 Scientific CMOS
Teledyne Photometrics Iris 15 Scientific CMOS 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Teledyne Photometrics Prime 95B sCMOS
Teledyne Photometrics Prime 95B sCMOS 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Teledyne Photometrics Prime BSI Express sCMOS
Teledyne Photometrics Prime BSI Express sCMOS 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Teledyne Photometrics Kinetix22 sCMOS Camera
Teledyne Photometrics Kinetix22 sCMOS Camera 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Teledyne Photometrics Kinetix sCMOS Camera
Teledyne Photometrics Kinetix sCMOS Camera 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Hamamatsu ORCA-Lightning Digital CMOS Camera
Hamamatsu ORCA-Lightning Digital CMOS Camera 属于科研级相机/探测器高端产品池，适合高端显微集成商、成像平台、单分子/弱光/高速成像实验室。典型应用包括弱光荧光、高速成像、单分子检测、显微系统升级。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Lasertec SICA 88 Wafer Inspection
Lasertec SICA 88 Wafer Inspection 属于半导体/薄膜/表面检测高端产品池，适合晶圆厂、封测厂、电子材料、功率半导体、薄膜工艺研发。典型应用包括晶圆缺陷、膜厚/形貌/电性、洁净污染、封装失效分析。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Lasertec OPTELICS HYBRID C3
Lasertec OPTELICS HYBRID C3 属于半导体/薄膜/表面检测高端产品池，适合晶圆厂、封测厂、电子材料、功率半导体、薄膜工艺研发。典型应用包括晶圆缺陷、膜厚/形貌/电性、洁净污染、封装失效分析。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。
Hitachi High-Tech HM1000A Micro-XRF Thickness Gauge
Hitachi High-Tech HM1000A Micro-XRF Thickness Gauge 属于半导体/薄膜/表面检测高端产品池，适合晶圆厂、封测厂、电子材料、功率半导体、薄膜工艺研发。典型应用包括晶圆缺陷、膜厚/形貌/电性、洁净污染、封装失效分析。该型号用于显微与成像平台转型上架，建议销售前复核授权、供货周期、配置清单和正式技术参数。