VK-X1000
基恩士 KEYENCE VK-X1000 三维激光扫描显微镜
三维激光扫描共聚焦显微镜控制平台，将针孔共聚焦、焦点变化和彩色成像结合，用于获取微细表面的形貌、粗糙度、轮廓和尺寸数据。
品牌KEYENCE（基恩士）
型号VK-X1000
系统类型三维激光扫描共聚焦显微镜
KEYENCE VR-6000 系列
KEYENCE VR-6000 系列 3D轮廓测量仪
KEYENCE VR-6000 系列是一套非接触式3D轮廓测量系统，可对工件表面形状、台阶高度、截面轮廓、粗糙度和几何尺寸进行快速测量。系统支持0.1 μm高度显示分辨率，并可通过HDR扫描、图像拼接及电动旋转单元应对高反光、低反光和存在测量死角的复杂工件。
品牌KEYENCE 基恩士
产品系列VR-6000 系列
控制器VR-6000
VR-5000
基恩士 KEYENCE VR-5000 大范围三维轮廓测量仪
面向较大工件表面的非接触三维轮廓测量系统，利用双远心镜头和形状光快速获取高度数据，可对轮廓、粗糙度、平面度、磨损体积和CAD偏差进行分析。
品牌KEYENCE（基恩士）
型号VR-5000
系统类型大范围三维轮廓测量仪
DSX1000
Evident（原奥林巴斯）DSX1000 多角度数字显微镜
将宏观定位与微观分析整合在一起的数字显微镜，采用远心光学、电动 10×变倍和快速更换编码镜头，可在不同倍率与观察方式之间自动完成校准。
品牌Evident（原 Olympus 奥林巴斯）
型号DSX1000
系统类型多角度数字显微镜
LEXT OLS5100
Evident（原奥林巴斯）LEXT OLS5100 三维测量激光显微镜
新一代反射式共聚焦激光扫描测量显微镜，可高速获取微细表面的三维形貌、轮廓和粗糙度，并利用长度测量模块的位置信息提高大面积拼接数据可靠性。
品牌Evident（原 Olympus 奥林巴斯）
型号LEXT OLS5100
系统类型三维测量激光显微镜
LEXT OLS5000
Evident（原奥林巴斯）LEXT OLS5000 三维激光共聚焦显微镜
用于微细表面三维形貌与粗糙度测量的激光扫描共聚焦显微镜，结合 405 nm 激光、双 16 位 PMT 和彩色 CMOS 成像，可无接触获取高密度高度数据。
品牌Evident（原 Olympus 奥林巴斯）
型号LEXT OLS5000
系统类型三维激光共聚焦显微镜
MX63
Evident（原奥林巴斯）MX63 晶圆检测显微镜
面向晶圆、平板显示和电子基板检验的工业显微镜，采用 UIS2 无限远校正光学与高亮度白光 LED，在稳定平台上完成多种反射光对比观察和数字记录。
品牌Evident（原 Olympus 奥林巴斯）
型号MX63
系统类型晶圆/半导体检测显微镜
MX63L
Evident（原奥林巴斯）MX63L 大型晶圆检测显微镜
面向大型晶圆、平板显示和电路板检验的工业显微镜，MX63L 支持最大 300 mm 晶圆，在稳定的大行程平台上实现多种反射光对比观察和数字图像记录。
品牌Evident（原 Olympus 奥林巴斯）
型号MX63L
系统类型大型晶圆/半导体检测显微镜
BX53M
Evident（原奥林巴斯）BX53M 正置材料显微镜
模块化正置材料显微镜，采用 UIS2 无限远校正光学和白光 LED 照明，可根据日常检验或高级材料分析需求配置编码部件、相机与专用分析软件。
品牌Evident（原 Olympus 奥林巴斯）
型号BX53M
系统类型正置材料显微镜
DVM6
徕卡 Leica DVM6 倾斜式三维数字显微镜
采用可倾斜光学头的三维数字显微镜，可从不同角度观察复杂表面；16:1 变倍模块配合三款齐焦 PlanApo 物镜，实现从大视野定位到微小细节分析。
品牌Leica Microsystems（徕卡显微系统）
型号DVM6
系统类型倾斜式三维数字显微镜
DM6 M
徕卡 Leica DM6 M 全自动正置材料显微镜
面向高准确性和高重复性材料分析的全自动正置显微镜，配备电动高精度调焦、电动物镜转盘、可选电动扫描平台和触控控制，可执行标准化批量成像。
品牌Leica Microsystems（徕卡显微系统）
型号DM6 M
系统类型全自动正置材料显微镜
DM4 M
徕卡 Leica DM4 M 编码正置材料显微镜
面向日常材料检验的编码正置显微镜，以手动调焦和平台结合编码物镜转盘、照明管理和对比管理，为常规金相与材料分析提供稳定、易复现的设置。
品牌Leica Microsystems（徕卡显微系统）
型号DM4 M
系统类型编码正置材料显微镜